xrf荧光光谱仪定量分析方法 荧光光谱仪
分析方法，可以划分为实验校正法和数学校正法两大类属于实验校正法，即主要以实验曲线进行定量测定为特征的，通常可分为：
a.外标法 包括直接校正法、稀释法和薄试样法等。
b.内标法 包括单标样内标法、可变内标法、内部控制标准法以及内部和外部的强度参比标准法等。
c.散射线标准法 包括本底标准法靶线标准法以及相干对不相干散射的强度比例法等。这种方法基本属于内标法一类，是种特殊的内标。
d.其它方法 包括增量法质量衰减系数测定法、发射吸收法和间接测定法等。此外，还有艾伯尔（Ebe，H.）等发展起来的可变出射角法。
